HT-7裝置軟X射線診斷系統及鋸齒行為研究

利用HT-7裝置上建立的多陣列軟X射線診斷系統對等離子體放電中的鋸齒不穩定性進行研究,發現鋸齒的出現及其行為特點與等離子體電子密度Ne、電子溫度Te、邊界安全因子qα、壁條件等放電參數有密切關系.在低雜波電流驅動等離子體放電條件下,觀察到m/n=1/1的中間模振蕩出現在鋸齒的上升階段,并迅速發展、飽和、衰減,在鋸齒塌陷或先兆振蕩出現以前消失.分析和討論了歐姆加熱條件下和低雜波加熱條件下的鋸齒行為.

作 者： 段艷敏 陳開云 胡立群 DUAN Yan-min CHEN Kai-yun HU Li-qun   作者單位： 中國科學院等離子體物理研究所,合肥,230031  刊 名： 核聚變與等離子體物理  ISTIC PKU 英文刊名： NUCLEAR FUSION AND PLASMA PHYSICS  年，卷(期)： 2008 28(2)  分類號： O536 TL65  關鍵詞： 鋸齒振蕩   軟X射線診斷   低雜波電流驅動   等離子體  

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