星用SRAM型FPGA加固設計方法研究

結合實際工程實踐,給出了解決常見的FPGA輻射失效問題的一些方法;分析了輻射效應對FPGA綜合過程中經常出現的Half-latch的影響,并給出了幾種設計時需要考慮的解決方法;最后提出了一種基于低等級FPGA器件的"由頂到底"的星載信號處理平臺結構,分析了這種結構在對付輻射效應時的優勢.給出的有關大規模可配置電子器件的設計方法可以為航天電子設備的設計提供參考.

作 者： 邢克飛 楊俊 周永彬 季金明 XING Ke-fei YANG Jun ZHOU Yong-bin JI Jin-ming   作者單位： 邢克飛,楊俊,周永彬,XING Ke-fei,YANG Jun,ZHOU Yong-bin(國防科技大學,長沙,410073)

季金明,JI Jin-ming(上海航天電子有限公司五三九廠,上海,201800) 

刊 名： 電子器件  ISTIC 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF ELECTRON DEVICES  年，卷(期)： 2007 30(1)  分類號： V4  關鍵詞： 輻射效應   可靠性   加固設計   SRAM型FPGA  

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