利用恒星標校衛(wèi)星激光測距經(jīng)緯儀指向精度

指向精度是影響衛(wèi)星激光測距經(jīng)緯儀盲跟和白天測星的重要因素，而恒星標校法可以提高衛(wèi)星激光測距經(jīng)緯儀的指向精度，從而滿足觀測的需要。文中給出了一種利用觀測恒星標校衛(wèi)星激光測距經(jīng)緯儀指向精度的方法。首先建立了影響經(jīng)緯儀指向精度的狀態(tài)參數(shù)模型，然后通過選擇一定數(shù)量的恒星進行觀測，確定出該模型的狀態(tài)參數(shù)。最后給出了利用這種方法標校長春人衛(wèi)站衛(wèi)星激光測距經(jīng)緯儀指向精度的結(jié)果。

作 者： 鞏巖   作者單位： 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所，吉林長春 130021  刊 名： 光學精密工程  ISTIC EI PKU 英文刊名： Optics and Precision Engineering  年，卷(期)： 2000 8(3)  分類號： V556.5  關(guān)鍵詞： 恒星   標校   衛(wèi)星激光測距(SLR)   經(jīng)緯儀   指向精度  

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