電感耦合等離子體光譜法測定納米二氧化鈦及鈦基物料中痕量釩

對用電感耦合等離子體光譜法,(ICP-AES)測定以鈦為基體元素的物料(如二氧化鈦、金紅石等)中痕量鈦的最佳分析條件作了研究.結果表明選擇波長為310.023 nm的譜線作為分析線可避免大量鈦的嚴重干擾.在應用適宜的同步背景校正條件下,鈦及其他常見元素的干擾均能有效消除,而且在制備釩的標準工作曲線時也毋需作基體匹配.試樣用HCl-HF-H2SO4混合酸消解,經硫酸冒煙逐除氫氟酸后用HCl(5+95)定容至一定體積.此方法可測定質量分數為2×10-4～5%釩的試樣,不需要任何富集或分離步驟.用不同含釩量(0.01%～0.20%)的試樣作精密度試驗,所得結果的RSD(n=8)值均小于3%,方法的檢出限為0.01 mg·L-1,回收率在99%～106%之間.

作 者： 成勇 CHENG Yong   作者單位： 攀枝花鋼鐵研究院,攀枝花,617000  刊 名： 理化檢驗-化學分冊  ISTIC PKU 英文刊名： PHYSICAL TESTING AND CHEMICAL ANALYSIS PART B:CHEMICAL ANALYSIS  年，卷(期)： 2007 43(2)  分類號： O6  關鍵詞： ICP-AES   釩   納米二氧化鈦   金紅石  

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