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V2O5復合薄膜材料的電子結構研究
采用自洽場離散變分Xα方法對純V2O5及V2O5復合薄膜不同狀態的O1s及V2p軌道電子結合能和鍵強度等進行了研究. 結果表明, V2O5結構中存在4種狀態的氧和3種狀態的釩, 聚合物(PEO)或聚合物(PEO)-Li+嵌入V2O5結構主要存在于層間的位置, 與雙鍵氧產生弱的鍵合作用, 導致雙鍵氧與五價釩的含量降低, 三鍵氧與三價、四價釩的含量增加;純V2O5層間嵌入的Li+與周圍氧的共價鍵與靜電力都非常明顯, V2O5層間引入PEO后再嵌入Li+, Li+與周圍氧的共價鍵與靜電力都變的非常微弱, 說明PEO嵌入V2O5層間使Li+具有很好的注入/脫出可逆性.
陳文,徐慶(武漢理工大學材料科學與工程學院,武漢,430070;武漢理工大學材料復合新技術國家重點實驗室,武漢,430070)
閔新民(武漢理工大學材料復合新技術國家重點實驗室,武漢,430070)
刊 名： 硅酸鹽學報 ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF THE CHINESE CERAMIC SOCIETY 年，卷(期)： 2002 30(2) 分類號： O641 關鍵詞： 五氧化二釩 復合薄膜 結合能 鍵強度 電子結構【V2O5復合薄膜材料的電子結構研究】相關文章：
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