中子照相∑定量測(cè)量方法

本文描述了一種利用中子照相進(jìn)行定量分析的方法,介紹了該方法的基本原理,并應(yīng)用粒子輸運(yùn)程序MCNP模擬分析樣品內(nèi)部散射中子隨樣品與探測(cè)器之間距離變化對(duì)中子成像的影響.為削弱散射中子對(duì)中子透射成像圖像信息的影響,對(duì)穿透樣品的厚度進(jìn)行了定量分析.

作 者： 霍合勇 唐彬 吳洋 薛斌 HUO Heyong TANG Bin WU Yang XUE Bin   作者單位： 中國(guó)工程物理研究院核物理與化學(xué)研究所,綿陽(yáng),621900  刊 名： 核技術(shù)  ISTIC PKU 英文刊名： NUCLEAR TECHNIQUES  年，卷(期)： 2007 30(4)  分類號(hào)： O481  關(guān)鍵詞： 中子照相   ∑標(biāo)定方法   宏觀截面   MCNP程序  

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