XRF方法在測量紙張厚度中的應用

本文的目的是研究XRF法在紙張厚度測量上的應用.采用X射線熒光吸收法和源初級射線散射法分別對一批紙張樣品質量厚度進行測量,并對測量結果進行對比,作出有益的討論.測量是采用成都微子科技有限公司的IED-2000P型手提式多元素X射線熒光分析儀,探測器選用Si-PIN電致冷半導體探測器,同位素源采用雙激發源(238Pu).實驗表明:X射線熒光吸收法在紙張厚度測量上的準確度要比源初級射線散射法好,采用源初級射線散射法對于紙張厚度的測量也是可行的.

作 者： 郭偉 賴萬昌 郭生良 程峰 GUO Wei LAI Wang-chang GUO Sheng-liang CHENG-Feng   作者單位： 成都理工大學核技術與自動化工程學院,成都,610059  刊 名： 核電子學與探測技術  ISTIC PKU 英文刊名： NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2007 27(5)  分類號： O657.34  關鍵詞： X射線熒光   紙張   質量厚度   散射射線  

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