混沌電路電容參數的選擇優化

通過測試蔡氏電路中關鍵元件的電壓特性關系,給出了混沌電路穩定出現八倍周期分岔現象時電路對元件性能的要求. 實驗發現相移電容的電壓穩定性是實驗的關鍵.

作 者： 王宇清 楊文明 WANG Yu-qing YANG Wen-ming   作者單位： 上海交通大學,物理實驗中心,上海,200240  刊 名： 物理實驗  PKU 英文刊名： PHYSICS EXPERIMENTATION  年，卷(期)： 2009 29(2)  分類號： O415.5 TN710  關鍵詞： 蔡氐電路   混沌   倍周期   電容-電壓特性  

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