功能分子結構的組裝和單分子物性:基于密度泛函理論的第一性原理計算與掃描隧道顯微學(Ⅰ)

在單個分子的層次上研究低維分子納米結構的生長,理解組裝機制并實現結構與特性的有效控制,是低維體系物理及其器件研究的重要內容.本文在基于密度泛函的第一性原理計算的基礎上,對功能分子在金屬表而上的自組裝特性等進行了綜述.對理論方法作了簡要介紹后,綜述了第一性原理計算方法在研究金屬基底上分子自組裝結構、界面特性、結構控制、單分了成像機制、單分子量子調控以及單分子輸運性能等方面的應用.最后對基于密度泛函的第一性原理計算在解釋功能分子組裝與界面物理化學特性方面的發展前景進行了展望.

作 者： 杜世萱 高鴻鈞 DU Shi-xuan GAO Hong-jun   作者單位： 北京凝聚態物理國家實驗室,中科院物理研究所,北京 100190  刊 名： 物理學進展  ISTIC PKU 英文刊名： PROGRESS IN PHYSICS  年，卷(期)： 2008 28(2)  分類號： O469 O561 O64  關鍵詞： 密度泛函理論   第一性原理   自組裝   電子結構   單分子成像  

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