圓柱形介質阻擋放電等離子體光譜診斷

在350～1150 nm范圍內對開放空間Ar氣介質阻擋放電等離子體的發射光譜進行測量,表明Ar發射譜線主要集中在680 nm～950 nm,且都為Ar原子譜線.采用發射光譜相對強度對比法,選取相距較近且有相同下能級的727.29 nm(2P2-1S4),738.40 nm(2P3-1S4) 和751.47 nm(2P5-1S4)三條光譜測量電子溫度.通過對在Ar氣和空氣中放電譜線的對比和分析,得出發射光譜相對強度與電源功率的關系.最終得出若要便于工業應用和光譜測量,需要選擇特定的氣體流量和電源功率.

作 者： 馬柳 時家明 袁忠才 張瑋 MA Liu SHI Jia-ming YUAN Zhong-cai ZHANG Wei   作者單位： 電子工程學院安徽省紅外與低溫等離子體重點實驗室,合肥,230037  刊 名： 光散射學報  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF LIGHT SCATTERING  年，卷(期)： 2008 20(3)  分類號： O461  關鍵詞： 介質阻擋放電   等離子體   光譜診斷   發射譜線  

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