基于面陣CCD的光電測量設備光學系統像面照度不均勻度測量系統

一直以來光電測量設備光學系統像面照度不均勻度檢測都沒有精確的測量設備和檢測系統.介紹了光電測量設備光學系統像面照度不均勻度測量系統.該測量系統采用積分球作為均勻面光源,面陣CCD作為光電接受器.通過對CCD進行均勻性校正的方法實現了對光學系統像面照度不均勻度的定量評價,檢測結果準確、可靠.

作 者： 王力 賀庚賢 沈湘衡 WANG Li HE Geng-xian SHEN Xiang-heng   作者單位： 王力,WANG Li(中國科學院,長春光學精密機械與物理研究所,長春,130033;中國科學院,研究生院,北京,100039)

賀庚賢,沈湘衡,HE Geng-xian,SHEN Xiang-heng(中國科學院,長春光學精密機械與物理研究所,長春,130033) 

刊 名： 光電子技術  ISTIC PKU 英文刊名： OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2008 28(3)  分類號： O432.2  關鍵詞： 像面照度不均勻度   光學鏡頭   CCD校正   積分球  

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