磁暴期間極光橢圓與極蓋區(qū)電離層效應(yīng)比較研究--F區(qū)負(fù)暴

聯(lián)合利用EISCAT和E-Svalbard非相干散射雷達(dá)數(shù)據(jù),研究l997年5月強(qiáng)磁暴期間向陽(yáng)側(cè)極蓋與極光橢圓區(qū)電離層F區(qū)負(fù)暴.發(fā)現(xiàn)在磁暴主相和恢復(fù)相初期,極光橢圓和極蓋區(qū)電離層都在大約l90km高度出現(xiàn)類似F1的峰,F2主峰完全消失,F區(qū)電子密度大幅度下降.但離子溫度的變化在兩個(gè)區(qū)域很不相同,在極光橢圓區(qū)大幅度升高,而在極蓋區(qū)沒(méi)有顯著變化,反映出引起F區(qū)負(fù)暴的主要機(jī)制在兩個(gè)區(qū)域不盡相同.強(qiáng)對(duì)流電場(chǎng)引起大氣焦耳加熱與離子增溫而使O+離子消失的化學(xué)反應(yīng)速率增大所導(dǎo)致的電離損失,對(duì)極光橢圓區(qū)負(fù)暴起主要作用;而輸運(yùn)過(guò)程,特別是持續(xù)長(zhǎng)達(dá)數(shù)小時(shí)的沿場(chǎng)上行離子流,對(duì)極蓋區(qū)負(fù)暴起重要作用.磁暴主相期間,當(dāng)EISCAT雷達(dá)位于等離子體對(duì)流渦旋轉(zhuǎn)換區(qū)下方時(shí),在無(wú)焦耳加熱與離子摩擦增溫的情況下,觀測(cè)到由頂部電離層O+離子沿場(chǎng)高速外流引起的F區(qū)電子密度耗空.

作 者： 馬淑英 劉會(huì)欣 K.Schlegel   作者單位： 馬淑英(武漢大學(xué)電子信息學(xué)院,武漢;430072中國(guó)科學(xué)院武漢物理與數(shù)學(xué)研究所電離層觀象臺(tái),武漢430071)

劉會(huì)欣(武漢大學(xué)電子信息學(xué)院,武漢430072;Max-Planck-Institut fur Aeronomie, D-37191 Katlenburg-Lindau, Germany)

K.Schlegel(Max-Planck-Institut fur Aeronomie, D-37191 Katlenburg-Lindau, Germany) 

刊 名： 地球物理學(xué)報(bào)  ISTIC SCI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF GEOPHYSICS  年，卷(期)： 2002 45(2)  分類號(hào)： P352  關(guān)鍵詞： 磁暴   極區(qū)電離層   對(duì)流電場(chǎng)   離子沿場(chǎng)外流  

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