雙側(cè)向測井曲線形狀與地層侵入關(guān)系研究

通過對具有不同侵入特征地層的雙側(cè)向理論曲線的計算,研究雙側(cè)向測井曲線的形狀與泥漿侵入地層狀態(tài)的關(guān)系.發(fā)現(xiàn)雙側(cè)向視電阻率曲線在高侵剖面的地層界面處出現(xiàn)'反沖',曲線'峰'和'谷'均較尖銳,而在低侵剖面,深側(cè)向和淺側(cè)向視電阻率曲線在地層界面處出現(xiàn)'過渡'趨勢,且曲線形狀較圓滑.研究表明:產(chǎn)生上述現(xiàn)象的原因是由于原狀地層對電流的吸引和排斥,使主電極和屏蔽電極供出的電流增大或減小,因而屏流比變化,進而導(dǎo)致視電阻率的變化.

作 者： 范曉敏 FAN Xiao-min   作者單位： 吉林大學(xué)地球探測科技學(xué)院,長春130026  刊 名： 地球物理學(xué)進展  ISTIC PKU 英文刊名： PROGRESS IN GEOPHYSICS  年，卷(期)： 2007 22(1)  分類號： P631  關(guān)鍵詞： 雙側(cè)向曲線形狀   地層侵入特征   屏流比   有限差分法  

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