顆粒物CEMS的取樣問題和基本分析技術

介紹了在實際應用中的顆粒物CEMS的取樣問題和基本分析技術,著重強調了顆粒物分層對取樣點位的影響以及在基于光學技術的顆粒物CEMS運行中,保持顆粒物特性和尺寸分布相對穩(wěn)定的重要性.

作 者： 楊凱 滕恩江   作者單位： 中國環(huán)境監(jiān)測總站,北京,100029  刊 名： 中國環(huán)境監(jiān)測  ISTIC PKU 英文刊名： ENVIRONMENTAL MONITORING IN CHINA  年，卷(期)： 2005 21(3)  分類號： X830.1  關鍵詞： CEMS   取樣   分析   監(jiān)測  

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