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基于氮氧化物的高k柵介質研究現狀
摘要： 氮氧化物在MOS器件高k柵介質研究中得到了廣泛的重視.本文從材料、工藝、性能等角度綜述了目前氮氧化物的研究進展,對氮化改性應用于高k柵介質的利弊作了重點探討. 作 者： 徐文彬 王德苗 作者單位： 徐文彬(集美大學信息工程學院,福建廈門,361021)王德苗(浙江大學信電系,浙江杭州,310027)
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