某型航空用超期電子元器件的使用問題探討

長期以來,航空電子元器件的超期使用問題一直都是航空電子產(chǎn)品可靠性研究的一個重要課題.從元器件的固有可靠性和使用可靠性兩個方面,對CBCB118雙達林頓管在某型航空產(chǎn)品上的使用問題進行了分析和探討.

作 者： 王芳萍 WANG Fang-ping   作者單位： 中國空空導(dǎo)彈研究院,河南,洛陽,471009  刊 名： 電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗  英文刊名： ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING  年，卷(期)： 2009 27(6)  分類號： V241.01  關(guān)鍵詞： 航空電子元器件   超期使用   使用可靠性   固有可靠性  

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