某型飛機端蓋的失效分析

采用掃描電子顯微鏡(SEM)、能譜分析(EDS)和顯微硬度(MHV)測試等手段對某型飛機的Al-Si-Cu鑄造合金端蓋進行了失效分析.結果表明:在交變載荷的長期作用下,端蓋凸緣處材料出現了裂紋.裂紋的存在引起了應力集中,最終導致了零件的疲勞斷裂.

作 者： 李夢 LI Meng   作者單位： 中國民航飛行學院,航空工程學院,四川,廣漢,618307  刊 名： 飛機設計  英文刊名： AIRCRAFT DESIGN  年，卷(期)： 2009 29(6)  分類號： V245.1  關鍵詞： Al-Si-Cu鑄造合金   端蓋   失效  

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