面粉中滑石粉的X射線檢驗法

采用X-射線衍射分析法檢測面粉中滑石粉等有害物質,是利用礦物質與面粉的分子結構不同的特點,利用X射線衍射法快速確定面粉中含有的礦物質結構,直接檢測滑石粉等有害物質結構.此方法具有快速、直接、準確的特點,有利于對大批量面粉中滑石粉等有害物質的快速檢測.

作 者： 由健 劉成雁 林雪征   作者單位： 遼寧省分析科學研究院,遼寧·沈陽,110015  刊 名： 科協論壇(下半月)  英文刊名： SCIENCE & TECHNOLOGY ASSOCIATION FORUM  年，卷(期)： 2009 ""(1)  分類號： Q81  關鍵詞： X-射線衍射   面粉   滑石粉  

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