有效介質理論在Ag-MgF2復合納米顆粒薄膜中的應用

將描述彌散體系行為的Maxwell-Garnett理論與Bruggeman理論應用于Ag-MgF2復合納米顆粒薄膜,分別計算出該復合體系在250 nm～830 nm波段范圍內的光學常數n、k隨波長λ的變化,并與實驗結果進行比較.發現較之普遍采用的Maxwell-Garnett理論,由Bruggeman理論計算出的n-λ、k-λ曲線的峰位、峰寬及峰位隨Ag組分質量百分率的位移都與實驗結果更為接近.同時對理論結果與實驗結果之間存在差異的原因給予了解釋.

作 者： 王佩紅 蔡琪 王磊 孫兆奇   作者單位： 安徽大學物理系,合肥,230039  刊 名： 真空科學與技術學報  ISTIC EI PKU 英文刊名： VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2003 23(6)  分類號： O484.4+1  關鍵詞： Ag-MgF2復合顆粒薄膜   有效介質理論   Maxwell-Garnett理論   Bruggeman理論  

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