PCS中基線值對累積法反演結果的影響分析

針對光強自相關函數與歸一化光場自相關函數之間的關系,指出基線值的不同會影響到顆粒粒徑和分散度的測量結果.分析了納米顆粒尺寸和分散度測定的光子相關光譜技術中的累積算法.利用光子相關光譜技術對三種不同材料共五種尺寸的顆粒進行了測試分析,結果顯示:測量基線方法不同,對應的基線值會不同,利用累積法反演得到的顆粒粒徑和分散度的結果也會不同.從理論上分析了反演結果不同的原因.本文確認了自動斜率法是較恰當的確定基線的方法.

作 者： 劉桂強 楊冠玲 周述蒼 曾思明 韓鵬 LIU Gui-qiang YANG Guan-ling ZHOU Shu-cang ZENG Si-ming HAN Peng   作者單位： 華南師范大學,物理與電信工程學院,廣州,510006  刊 名： 光電工程  ISTIC PKU 英文刊名： OPTO-ELECTRONIC ENGINEERING  年，卷(期)： 2008 35(3)  分類號： O432.2  關鍵詞： 光子相關光譜法   納米顆粒測量   累積法   有效直徑   分散度  

【PCS中基線值對累積法反演結果的影響分析】相關文章：

革蘭氏染色結果的影響因素及原因分析10-10

虛擬測點對ITD法識別結果的影響04-27

用玻璃電極法準確測定溶液中pH值的分析路徑04-26

MBR中胞外聚合物累積對污泥性質的影響04-26

大氣中TSP和降塵對土壤重金屬累積的影響04-25

云頂高度對紫外輻射反演臭氧總量的影響04-27

臭氧氧化法處理苯酚廢水的影響因素分析04-26

基于未確知三值判斷的層次分析法04-27

多基線數字近景攝影測量系統的應用分析04-26

層次分析法在定量分析中的應用04-26