基于邊界掃描技術和Tcl語言的DualSRAM測試設計

集成電路(IC)的迅猛發展促進了測試技術的研究和發展,支持IEEE1149.1標準的邊界掃描芯片的廣泛應用,使得邊界掃描測試技術日益被重視.Tcl語言是一種簡明、高效、移植性強的語言,它與邊界掃描技術的結合,擴展了芯片測試技術的應用,使得IC的測試更加靈活.本文以DualSRAM的測試設計為例,介紹了以邊界掃描技術為基礎的Tcl語言的應用,同時根據測試開發中遇到的問題,提出了一些可測性設計(DFT)的建議.

作 者： 王鳳馳 胡丙華 Wang Fengchi Hu Binghua   作者單位： 中國電子科技集團電子第三十八研究所,安徽合肥,230031  刊 名： 電子測試  英文刊名： ELECTRONIC TEST  年，卷(期)： 2009 ""(6)  分類號： PT312  關鍵詞： 邊界掃描   Tcl語言   DualSRAM測試   DFT  

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