JTAG測試中掃描鏈的配置問題研究

分析了常見掃描鏈路配置中面臨的問題,提出了一種掃描鏈配置方案.結合工程測試中出現的實際問題,給出了有關掃描鏈路配置的一些建議和注意事項.

作 者： 張磊 于曉輝 劉沖 ZHANG Lei YU Xiaohui LIU Chong   作者單位： 張磊,于曉輝,ZHANG Lei,YU Xiaohui(海軍駐洛陽地區航空軍代表室,河南,洛陽,471009)

劉沖,LIU Chong(中航工業洛陽電光設備研究所,河南,洛陽,471009) 

刊 名： 電光與控制  ISTIC PKU 英文刊名： ELECTRONICS OPTICS & CONTROL  年，卷(期)： 2010 17(6)  分類號： V271.4  關鍵詞： 集成電路   邊界掃描   掃描鏈   測試  

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