利用雙頻GPS數(shù)據(jù)研究區(qū)域電離層TEC變化規(guī)律

利用GPS雙頻觀測數(shù)據(jù)分析了儀器偏差對計算電離層TEC的影響,結(jié)果表明忽略儀器偏差的影響不能正確反映測站上空電離層總電子含量的變化規(guī)律.驗證了短期內(nèi)儀器偏差的穩(wěn)定性,并在此基礎(chǔ)上研究了2005年太陽活動低峰年區(qū)域電離層VTEC的周年變化規(guī)律,揭示了電離層VTEC半年變化、季節(jié)性變化及冬季異常等現(xiàn)象.

作 者： 孫正明 王堅 高井祥 SUN Zheng-ming WANG Jian GAO Jing-xiang   作者單位： 中國礦業(yè)大學(xué),環(huán)境與測繪學(xué)院,江蘇,徐州,221008  刊 名： 測繪科學(xué)技術(shù)學(xué)報  PKU 英文刊名： JOURNAL OF GEOMATICS SCIENCE AND TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2008 25(3)  分類號： P228  關(guān)鍵詞： 儀器偏差   天頂方向總電子含量(VTEC)   周日變化   三角級數(shù)函數(shù)模型  

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