電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測定高純鈦中痕量元素

應用電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜(ICP-AES)法測定高純鈦中14項雜質元素,并對其最佳測定條件進行了試驗.采用兩點法制備工作曲線.試樣溶于鹽酸和硫酸混合酸中,滴加過氧化氫使鈦氧化至4價.將試液蒸干使鈦以二氧化鈦狀態(tài)沉淀析出,加入稀硝酸后將其過濾除去.在濾液中進行各雜質組分的ICP-AES測定,所測14項元素的檢出限(3S)在5×10-4～1.5×10-2 mg·L-1范圍內,回收率在97.5%～113.4%之間.

作 者： 鄒玲玲 張學俊 郭玉生 ZHOU Ling-ling ZHANG Xue-jun GUO Yu-sheng   作者單位： 溫州大學,化學與材料工程學院,溫州,325035  刊 名： 理化檢驗-化學分冊  ISTIC PKU 英文刊名： PHYSICAL TESTING AND CHEMICAL ANALYSIS PART B:CHEMICAL ANALYSIS  年，卷(期)： 2007 43(3)  分類號： O657.31  關鍵詞： ICP-AES   痕量元素   高純鈦  

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