尖晶石結構氮化物γ-GeSi2N4的穩定性、電子結構和光學性質

采用第一性原理計算研究了新型立方尖晶石氮化物γ-GeSi2N4的穩定性、電子結構和光學性質.總能計算表明尖晶石氮化物γ-GeSi2N4是一種穩定結構,Si原子傾向于占據八面體位置,而Ge原子更易占據四面體位置.還采用了克喇末-克朗尼格關系式計算了這種氮化物的介電函數以及折射率等光學性質,并通過對能帶結構的分析確定了光學函數曲線上的主要特征.

作 者： 李白海 陳洪 LI Bai-hai CHEN Hong   作者單位： 西南大學,物理科學與技術學院,重慶,400715  刊 名： 西南大學學報（自然科學版）  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF SOUTHWEST UNIVERSITY(NATURAL SCIENCE EDITION)  年，卷(期)： 2007 29(5)  分類號： O472+.3 O472+.4  關鍵詞： 尖晶石氮化物   穩定性   電子結構   光學性質   spinel nitride   stability   electronic structure   optical properties  

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