超純水中雜質對光子相關譜法測量納米顆粒粒徑的影響

為了研究光子相關光譜法測粒技術中.溶液介質中的雜質對納米顆粒有效直徑和分散度測量準確性的影響.荻取并分析了3種超純水蒸發后殘留雜質的顯微圖像.討論了上述3種水對標稱直徑為960、340、90、60nm的顆粒物測定結果的影響.研究結果表明.水中雜質會增大光子平均計數率.以及增大100nm以下單分散顆粒的有效直徑和分散度的測量結果:對于自身分散度較大的顆粒, 水質對分散度測量結果的影響不明顯.

作 者： 周述蒼 楊冠玲 劉桂強 曾思明 韓鵬 黃潔 陳超雄 Zhou Shucang Yang Guanling Liu Guiqiang Zeng Siming Han Peng Huang Jiebin Chen Chaoxiong   作者單位： 周述蒼,Zhou Shucang(華南師范大學物理與電信工程學院,廣東,廣州510006;廣東工業大學實驗教學部,廣東,廣州510006)

楊冠玲,劉桂強,曾思明,韓鵬,黃潔,陳超雄,Yang Guanling,Liu Guiqiang,Zeng Siming,Han Peng,Huang Jiebin,Chen Chaoxiong(華南師范大學物理與電信工程學院,廣東,廣州510006) 

刊 名： 中國粉體技術  ISTIC PKU 英文刊名： CHINA POWDER SCIENCE AND TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2008 14(3)  分類號： O436.2  關鍵詞： 納米顆粒   雜質   光子相關光譜   有效直徑  

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