柱形等離子體電離阻抗測量與分析

表面波等離子體的研究由于實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的大量積累而得到快速發(fā)展.結(jié)合傳輸線阻抗匹配原理,設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)對(duì)柱形表面波等離子體電離阻抗進(jìn)行測量;參照金屬輻射體中輻射阻抗與損耗阻抗的求解方法,在簡化條件下理論計(jì)算柱形等離子體的電離阻抗,并與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析比對(duì).研究表明,表面波激發(fā)柱形等離子體的電離阻抗對(duì)等離子體源產(chǎn)生效率的分析及等離子體參數(shù)的診斷有著重要作用.這種新型等離子體源的研究具有非常重要的意義.

作 者： 徐杰 趙國偉 梁志偉 王之江 徐躍民 XU Jie ZHAO Guowei LIANG Zhiwei WANG Zhijiang XU Yuemin   作者單位： 徐杰,趙國偉,梁志偉,XU Jie,ZHAO Guowei,LIANG Zhiwei(中國科學(xué)院空間科學(xué)與應(yīng)用研究中心,北京,100080;中國科學(xué)院研究生院)

王之江,徐躍民,WANG Zhijiang,XU Yuemin(中國科學(xué)院空間科學(xué)與應(yīng)用研究中心,北京,100080) 

刊 名： 空間科學(xué)學(xué)報(bào)  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF SPACE SCIENCE  年，卷(期)： 2007 27(4)  分類號(hào)： P353  關(guān)鍵詞： 柱形等離子體   表面波   電離阻抗  

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