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垂直磁記錄薄膜實(shí)施剩余磁化測量時(shí)退磁場的補(bǔ)償
對于垂直磁記錄薄膜,進(jìn)行剩余磁化強(qiáng)度的測量時(shí),必須補(bǔ)償退磁場.提出一種新方法,在直流退磁剩磁和等溫剩磁測量中采用有效反向磁場來直接補(bǔ)償退磁場.從而可以正確地得出垂直磁記錄薄膜的ΔM曲線并評價(jià)晶粒間的磁相互作用.還采用了三種方法來確定其中的關(guān)鍵參數(shù)--退磁因子.結(jié)果表明,c軸垂直取向的鋇鐵氧體薄膜中,晶粒間的磁相互作用是交換偶合型的;而Co-Cr-Ta薄膜中,晶粒間磁相互作用是靜磁相互作用.
作 者: 馮潔 作者單位: 上海交通大學(xué)微納米科學(xué)技術(shù)研究院,上海,200030 刊 名: 物理學(xué)報(bào) ISTIC SCI PKU 英文刊名: ACTA PHYSICA SINICA 年,卷(期): 2003 52(2) 分類號: O4 關(guān)鍵詞: 退磁場補(bǔ)償 直流退磁剩磁(DCD) 等溫剩磁(IRM) ΔM曲線【垂直磁記錄薄膜實(shí)施剩余磁化測量時(shí)退磁場的補(bǔ)償】相關(guān)文章:
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